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檢測組分
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SO2、H2S
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CO
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濕度
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純度
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檢測原理
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紫外差分吸收DOAS
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波長濾波紅外GFC
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激光微水
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熱導
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量程
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(0~100)ppm
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(0~500)ppm
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(0~1650)ppm
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(0~100)%
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示值誤差
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0~10
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≤±1ppm
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0~50
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≤±1.5ppm
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0~500
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≤15ppm
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≤±0.3%
(體積分數)
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10~100
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≤±5.0%
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50~500
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≤±4.0%
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500~1650
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≤±3.0%
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重復性
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0~10
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≤0.3ppm
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0~50
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≤1.5ppm
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連續3次測量值偏差
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≤2.0%
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≤0.2%(RSD)
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10~100
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≤2.0%
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50~500
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≤3.0%
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最小檢測量
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≤0.5ppm
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≤0.5ppm
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≤5ppm
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≤0.1%
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響應時間
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<60s
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<60s
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<60s
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<60s
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采樣方法
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抽取式
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氣體流量
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500mL/min
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預熱時間
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30min
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注:詳細指標數據見(jian)出廠(chang)測試(shi)報告。
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各技術應用對比
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技術原理
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電化學法
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色譜法
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光學法(紅外/紫外)
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化學比色/電離法
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氣體成分
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有損
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有損
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無損
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有損
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檢測精度
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低
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高
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高
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低
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重復性
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差
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高
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高
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低
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使用壽命
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電化學試劑
壽命短
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定期更換載氣,二年更換色譜柱
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無耗材,5年以上
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需更換耗材,壽命2年
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耗氣量
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200ml
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1L以上
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500mL以上
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1L以上
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便攜性
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很好
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極差
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好
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一般
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響應速度
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45秒
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5分鐘
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70秒
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2分鐘
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產品選型
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品名
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型號
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備 注
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SF6綜合氣體分析儀
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GW-6000P
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紅外光學:CO、SF6,紫外光學:H2S、SO2,激光光學:H2O
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GW-6000M
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紅外光學:CO、SF6,紫外光學:H2S、SO2,阻容法:H2O
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GW-6000B
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紅外光學:CO,紫外光學:H2S、SO2,熱導法:SF6,阻容法:H2O
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SF6分解產物分析儀
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GW-6001
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紅外光學:CO,紫外光學:H2S、SO2
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SF6純度微水分析儀
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GW-6002
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紅外光學:SF6,激光光學:H2O
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SF6/CF4混合氣體分析儀
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GW-6003
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紅外光學:SF6、CF4,阻容法:H2O
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當光束通過待(dai)測氣體時,這些氣體分子對特(te)定波(bo)長的(de)光譜有吸(xi)收(shou)(shou)作用,并且(qie)其吸(xi)收(shou)(shou)關系服從朗伯比(bi)爾吸(xi)收(shou)(shou)定律。通過測量窗和對比(bi)窗的(de)光強,可以計算出待(dai)測氣體的(de)濃度(du)。
波長濾波紅外GFC
進口紅(hong)外光(guang)(guang)源提供長期穩定的(de)紅(hong)外光(guang)(guang),能夠滿足紅(hong)外氣(qi)體(ti)吸收池的(de)氣(qi)體(ti)測(ce)(ce)量(liang);高靈敏的(de)探測(ce)(ce)器配(pei)合精(jing)心定制的(de)、具有極強(qiang)選擇(ze)性的(de)兩片(pian)濾(lv)波片(pian),選擇(ze)特定波長光(guang)(guang)照射到達探測(ce)(ce)器,從而輸出帶有濃度(du)信號的(de)電壓波形,提供微處理器采(cai)集和計(ji)算、校(xiao)準(zhun),獲得濃度(du)信號,通過數字信號輸出。同時,自(zi)動補償因光(guang)(guang)源強(qiang)度(du)的(de)改變,或(huo)光(guang)(guang)學器件受污染(ran)所帶來(lai)的(de)影(ying)響。
紫外差分吸收DOAS
其(qi)基(ji)本原理是利用氣體(ti)(ti)分(fen)子對光線的差(cha)分(fen)吸(xi)(xi)(xi)收(shou)。在紫外(wai)和(he)近紫外(wai)附近,分(fen)子的吸(xi)(xi)(xi)收(shou)光譜主要是由(you)分(fen)子或(huo)原子的電子躍遷引起(qi)的,該吸(xi)(xi)(xi)收(shou)光譜包括慢(man)變(bian)(bian)的寬(kuan)(kuan)帶吸(xi)(xi)(xi)收(shou)和(he)快變(bian)(bian)的窄(zhai)帶吸(xi)(xi)(xi)收(shou),去除(chu)寬(kuan)(kuan)帶吸(xi)(xi)(xi)收(shou)剩下窄(zhai)帶吸(xi)(xi)(xi)收(shou)后,通常稱這個窄(zhai)帶吸(xi)(xi)(xi)收(shou)為(wei)差(cha)分(fen)吸(xi)(xi)(xi)收(shou),對應(ying)的吸(xi)(xi)(xi)收(shou)截面(mian)為(wei)差(cha)分(fen)吸(xi)(xi)(xi)收(shou)截面(mian)。比較被測氣體(ti)(ti)的差(cha)分(fen)吸(xi)(xi)(xi)收(shou)光譜和(he)差(cha)分(fen)吸(xi)(xi)(xi)收(shou)截面(mian),用最小二乘(cheng)法擬合,可(ke)以(yi)計算出被測氣體(ti)(ti)的濃(nong)度(du)。
